Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)

簡要描述：Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)，Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應(yīng)用，如激光溫度和電流穩(wěn)定。通過使積分和微分控制器具有獨(dú)立的增益設(shè)置，PID控制器也可以用作超前滯后補(bǔ)償器。

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更新時間：2022-04-14
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PID控制器PLL鎖相環(huán)	Moku:Pro

Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)

Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應(yīng)用，如激光溫度和電流穩(wěn)定。通過使積分和微分控制器具有獨(dú)立的增益設(shè)置，PID控制器也可以用作超前滯后補(bǔ)償器。

Moku:Pro是一個基于芯片的儀器測試系統(tǒng)，能夠在FPGA硬件平臺上運(yùn)行多個儀器?，F(xiàn)在，使用Multi-instrument Mode，傳統(tǒng)上需要由獨(dú)立硬件盒或模塊組成的整個FPGA測試設(shè)備系統(tǒng)，現(xiàn)在可以在一個Moku:Pro上實現(xiàn)。利用FPGA的動態(tài)重配置，用戶可以獨(dú)立地?zé)岵灏蝺x表，而不影響系統(tǒng)中的其他儀表。此外，儀器之間可以相互連接，信號在FPGA內(nèi)*通過數(shù)字域傳遞。這可以實現(xiàn)高數(shù)據(jù)傳輸速率和超低延遲，而且不會出現(xiàn)信噪比下降。而通常由獨(dú)立硬件模塊或儀器之間的模數(shù)或數(shù)模轉(zhuǎn)換往往會導(dǎo)致信噪比下降。多儀器模式極大地擴(kuò)展了Moku:Pro的通用性，體現(xiàn)了loC功能的潛力。