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精密定位系統(tǒng)/平移臺

2023
6.8

透射光學材料的介紹

光學成像要通過光學零件的折射和反射來實現(xiàn)，決定一種材料能否用來制造光學零件，要看它對要求成像的波段是否透明，或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對于透射光學零件來說，透射材料的特性除了透過率之外，還有它對各種特征譜線的折射率，其中以D或d線的折射率nD或nd以及F線和C線的折射率差nF-nc作為其主要的光學性能參數(shù)，這是因為F線和C線接近人眼光譜靈敏極限的兩端，而D線或d線在其中間，接近人眼靈敏的波長，nd稱為平均折射率，nF-nc稱為平均色散。此外，將?d=(nd-1...
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2023
5.29

鎖模激光器的原理

在一個簡單的激光器中，每一個模式都獨立地振蕩，彼此之間沒有固定的關(guān)系，本質(zhì)上就像一組獨立的激光器，它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個相位都不是固定的，可能會因激光器材料的熱變化等因素而隨機變化。在只有少數(shù)振蕩模式的激光器中，模式之間的干擾會導致激光輸出中的拍頻效應，導致強度波動；在具有數(shù)千個模式的激光器中，這些干擾效應趨于平均到接近恒定的輸出強度。如果不是獨立振蕩，而是每個模式運行時與其他模式之間保持固定的相位差，則激光輸出的行為會截然不同。激光模式將周期性地相...
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2023
5.22

點衍射干涉儀的精度檢驗方法

點衍射干涉儀的精度檢驗方法點衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學測量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點光源對物體表面進行測量，可以實現(xiàn)對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于超高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統(tǒng)主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構(gòu)成。1.2測試環(huán)境溫度：21℃&plus...
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2023
5.22

非接觸式金屬膜厚測量儀的原理及應用

非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學干涉或者電磁感應等技術(shù)。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點，廣泛應用于材料科學、電子工程、光學制造等領(lǐng)域。原理是利用光學干涉原理或電磁感應原理來測定薄膜的厚度。其中，光學干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實時監(jiān)測信號變化來計算出薄膜的厚度。...
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2023
4.27

Up to 98%光利用率—鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!

Upto98%光利用率——鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調(diào)制器（SLM）可以將數(shù)字化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為適合各種應用的相干光學信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學、湍流模擬、光計算、光遺傳學和散射介質(zhì)成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調(diào)制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數(shù)字電路相結(jié)合，MeadowlarkOptics現(xiàn)在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
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2023
4.17

膜厚測量儀的應用場景

膜厚測量儀主要采用了X射線熒光光譜技術(shù)（XRF技術(shù)），通過發(fā)射出的X射線來對材料內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)進行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過材料后，與材料中的元素反應并產(chǎn)生熒光信號，該熒光信號的波長和強度反映了樣品中的元素種類和含量。通過這種方式來測量薄膜的厚度以及成分。應用場景：1、半導體加工在半導體制造業(yè)中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來進行檢測。膜厚測量儀能夠精確測量超薄膜，對后續(xù)工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業(yè)中，需...
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2023
4.13

膜厚測量儀在多個行業(yè)中都有著廣泛的應用

膜厚測量儀是一種廣泛應用于材料科學和工業(yè)生產(chǎn)中的精密測量設(shè)備。膜厚測量儀的主要作用是通過利用特定實驗方法和設(shè)備對薄膜進行精確測量。膜厚測量儀可以廣泛應用于多個領(lǐng)域，如電子、照明、建筑、半導體、光學、制藥、航空等。1.電子行業(yè)在電子行業(yè)中，膜厚測量儀被廣泛應用于半導體、面板顯示器、光學存儲器、光電元件等制造產(chǎn)業(yè)中。通過利用膜厚測量儀可以幫助生產(chǎn)商更好地掌握產(chǎn)品的質(zhì)量和性能特征，提高產(chǎn)業(yè)的競爭力。2.照明行業(yè)在照明行業(yè)中，膜厚測量儀的主要應用是幫助測量光伏電池的光電轉(zhuǎn)化率，以及測...
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2023
4.11

無人機載高光譜遙感使作物表型檢測更加高效

無人機載高光譜遙感使作物表型檢測更加高效糧食短缺、人口增長和全球氣候變化推動了提高作物產(chǎn)量的研究。田間作物表型能為作物生長及其與環(huán)境的關(guān)系提供了重要信息。然而，傳統(tǒng)的車載平臺用于田間試驗采樣和作物性狀參數(shù)的確定費時費力，且空間覆蓋范圍有限。這限制了作物科學研究的快速發(fā)展。以無人機(UAV)為代表的高通量近地遙感表型平臺靈活、成本低、空間覆蓋廣，已成為獲取田間表型信息的有效途徑。（利用光譜數(shù)據(jù)評估植物表型特征）將specimAFX10高光譜成像相機集成到無人機上，用于評估中國北...
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